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簡(jiǎn)要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會(huì )社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
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列真株式會(huì )社自創(chuàng )業(yè)以來(lái),秉承“挑戰"、“創(chuàng )造"、“誠實(shí)"的經(jīng)營(yíng)理念,為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運用激光掃描技術(shù),專(zhuān)門(mén)制造、銷(xiāo)售半導體材料表面及內部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。
特征:
Glass Wafer的出貨檢查、過(guò)程評價(jià)
可同時(shí)檢查表面,背面和內部的缺陷
用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷
檢查對象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
檢查項目:表面和背面的顆粒、內部缺陷
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時(shí)電話(huà)對應,全年無(wú)休的安心支持。
認真對待客戶(hù)新的要求。
召開(kāi)技術(shù)研討會(huì )和充實(shí)各種手冊,讓顧客能夠自行維護和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務(wù)。
產(chǎn)品咨詢(xún)
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